专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]外观检查系统-CN202110540398.8在审
  • 桥本款音;伊藤大辅 - 本田技研工业株式会社
  • 2021-05-18 - 2021-11-23 - G01N21/88
  • 本发明提供一种外观检查系统外观检查系统(30)具有照射光的照明装置和用于保持检查对象物的保持件(76)。当通过受光装置(134)测定的照度的测定值为预先设定的基准值以下时,外观检查系统(30)的判定部(114)判定为“检查条件不成立”。也可以代替受光装置(134)而设置灰阶卡(94)。据此,能够提高检查结果的可靠性,易于保证合格品的品质。
  • 外观检查系统
  • [发明专利]外观检查系统-CN200910134040.4无效
  • 小田切章;户田好实;长野胜一;增田良太 - 日商鹰野株式会社
  • 2009-04-08 - 2010-10-13 - G01N21/956
  • 本发明提供一种外观检查系统,不会受到搬送机构的影响而可靠且稳定地得到高精度的位置信息,并且有利于降低成本以及小型化、轻量化以及节能性提高。该外观检查系统(1)利用摄像部(V)拍摄被检查物(P)的外观,并通过图像处理检查有无缺陷部位,其特征在于,具备:编码器图案显示部(2),具有在被检查物(P)上显示、并且至少显示与被检查物(P)的搬送方向(Fy)(Y坐标方向)上的Y坐标位置对应的编码器图案的Y坐标图案部(2y);以及检查装置(3),具有从在检测缺陷部位时利用摄像部(V)拍摄该编码器图案显示部(2)而得到的图案信号(Sp)中检测与缺陷部位的位置对应的至少
  • 外观检查系统
  • [发明专利]外观检查系统以及外观检查方法-CN201410478942.0有效
  • 当真博太 - 电装波动株式会社
  • 2014-09-18 - 2018-10-23 - G01N21/88
  • 本发明提供一种可以使用任意光源且能够抑制干扰光影响的外观检查系统外观检查系统(10)具备:闪光灯(20),向对象物(W)照射光;相机(30),用于拍摄对象物(W);以及控制装置(40),计算出第1图像的像素值与第2图像的像素值之间的差分,并且通过比较差分与对应于差分的基准像素值,从而判断对象物(W)的外观合格与否,其中,该第1图像是由闪光灯(20)以第1光量照射光并由相机(30)拍摄对象物(W)获得的,该第2图像是由闪光灯(20)以第2光量照射光并由相机(30)拍摄对象物(W
  • 外观检查系统以及方法
  • [发明专利]外观检查系统检查方法-CN201910893295.2在审
  • 林文彬 - 联策科技股份有限公司
  • 2019-09-20 - 2021-03-23 - G01N21/88
  • 本发明公开了一种外观检查系统与一种外观检查方法,该外观检查系统设置有主机端以及主机端所连接的摄影装置、显示器以及眼球追踪装置,利用摄影装置拍摄待检查物影像,并交由主机端对待检查物进行检查以及显示于显示器,以及人工方式对显示器所显示的缺陷进行二次检查,并以眼球追踪装置确认检查者是否有针对所有缺陷进行二次检查,以避免检查者因未注意而造成检查不完全的情形发生。
  • 外观检查系统方法
  • [实用新型]一种外观检查装置及外观检查系统-CN202021288813.2有效
  • 徐崇友 - 深圳赋元软件有限公司
  • 2020-07-02 - 2021-05-04 - G01N21/89
  • 本实用新型提供了一种外观检查装置,包括可调焦拍照装置、以及可调节波长和亮度的照明装置,所述可调焦拍照装置的拍摄端和所述照明装置的照明端朝向一检查区域,所述可调焦拍照装置的拍摄端避开所述照明装置,所述可调焦拍照装置和所述照明装置用于电连接照片处理中心,本实用新型还提供的一种外观检查系统,包括上述一种外观检查装置,所述外观检查系统还包括照片处理中心,所述可调焦拍照装置和所述照明装置电连接于所述照片处理中心,达到提高检查物件是否合格的准确率的目的。
  • 一种外观检查装置系统
  • [发明专利]外观检查装置及外观检查方法-CN202010541989.2在审
  • 上條秀章 - 日本电产三协株式会社
  • 2020-06-15 - 2020-12-22 - G01N21/95
  • 一种外观检查装置及外观检查方法,能高效地进行隔着绝缘膜在厚度方向上层叠的第一配线及第二配线的检查外观检查装置具有:照明部(10),其向半导体器件(6)射出第一波长范围的光(L1)及第二波长范围的光(L2);拍摄部(30),其具备透镜单元(20),该透镜单元针对第一波长范围的光及第二波长范围的光产生与透光膜因此,能基于由第一波长范围的光形成的第一配线的像及由第二波长范围的光形成的第二配线的像检查第一配线及第二配线的缺陷而不必改变透镜的位置,所以能缩短检查时间。
  • 外观检查装置方法

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